微焦点X-RAY半导体检测仪器 芯片检测
X-RAY微焦检测系统
XDR-1600W X射线检测系统应用于封装电子组件、贴片元器件和芯片的高分辨率检测。
该机型采用了微焦点X射线管和高分辨率成像系统,能满足航天、航海、电子制造、生物研宄等领域内的检测应用的要求。
技术参数:
出厂:
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ANZHU
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型号:
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XDR-AZ1600W;
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数字成像视场:
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160x130mm(不同面积可订制)
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像素间距
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49um(高分辨率成像系统)
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A/D转换;
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16/bits
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几何放大倍数;
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高达1000;
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放大倍率;
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高达2000;微焦配置;
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微焦光管;
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进口光管5-15um;
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管电压;
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40-120 kV;
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管电流
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0.2-1.0ma;
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操作台上下间距:
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200-600mm
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机械操作台
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左、右、前、后、上、下;
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机械操作台软件
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软件数控调节模似;
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检测区
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160x130mm(尺寸可选)
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操作台承重量
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10kg
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操作辅助
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自动/手动
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图像处理软件
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X射线检测图像软件,图像增、测量;
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设备尺寸(长x宽x高)
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1360mmx800mmx700mm
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电脑系统:
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windows10;联想21/25吋
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仪器重量:
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380kg
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适配器输出电压
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DC24V
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交流电源频率:
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50-60hz;
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远程控制:
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远程操作软件
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