X-RAY无损检测成像系统-平板探测器 安竹光
高性能的动态平板探测器，图像好、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等特点，可以实现1x1原图30fps帧速率，
2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。
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技术参数
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规格
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探测器类别
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非晶硅
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闪烁体
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CsI GOS
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图像尺寸(mm)
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160×130
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像素矩阵
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1274×1024
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像素间距(um)
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125
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A/D转换(bits)
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16
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灵敏度(LSB/nGy, RQA5)
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1.4
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线性剂量(uGy, RQA5).
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40
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调制传递函数@ 0.5 LP/mm
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0.60
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调制传递函数@ 1.0 LP/mm
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0.36
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调制传递函数@ 2.0 LP/mm
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0.16
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调制传递函数@ 3.0 LP/mm
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0.08
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残影(%, 300uGy, 60s)
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<0.5
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量子探测效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.73
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量子探测效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.55
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量子探测效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.45
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量子探测效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)
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0.29
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空间分辨率(LP/mm)
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4.0
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帧速率(fps)
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15.
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X-射线工作范围(kV)
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40/-/150
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传输方式
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千兆网线
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功率(W)
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12
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电源(V)
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DC24
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交流电源频率(Hz)
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50/-/60
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适配器输出电压(V)
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24 DC
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探测器尺寸(mm)
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170×195×16mm
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探测器重量(kg,不含线缆)
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1.0±0.1
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探测器外壳材料
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碳板,铝合金
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存储温度(ºC)
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-20/-/55
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工作温度(ºC)
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5/-/35
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存储和运输湿度(%RH)
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10/-/75
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工作湿度(%RH)
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10/-/75
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