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Keysight N7788C 光器件分析仪

主要特性与技术指标
单次扫描中的通牒高精度。无需进行多次扫描并计算平均值
对元器件的光路径长度没有限制
1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围
1 MHz 大采样率
0 ps 至 1000 ps DGD 测量范围
0 ps 至 300 ps PMD 测量范围
1.5° SOP 测量不确定度
±2% DOP 测量不确定度
描述
N7788C 光器件分析仪可在一台仪器中同时提供偏振控制和分析功能，因而能够在实验室中灵活使用。尤其是，N7788C 能够与可调谐激光源结合使用，测量光元器件如何改变信号的 SOP。该测量以广义标准琼斯矩阵本征分析法（JME）为基础，使用独特的单次扫描偏振相关方法来确定参数偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）以及偏振相关损耗（PDL）。

N7788C 与可调谐激光源和新的 N7700 软件引擎结合使用，能够对这些偏振相关损耗和色散进行光谱测量。

可提供的测量参数包括：

DGD/PMD
PDL
功率/损耗
TE/TM 损耗
琼斯矩阵
米勒矩阵
二阶 PMD（去偏振 + PCD）
内置用户界面支持 N7788C 的通用偏振计和偏振控制功能。
该仪器外形紧凑，仅有一个机架单元高，并配有 LAN 和 USB 接口。